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SMA射频连接器的插拔寿命试验方法
双击自动滚屏 发布者:star 发布时间:2016-3-21 阅读:482

  SMA射频连接器的插拔寿命试验方法

  试验对象是一条长度为1米,二端为Nm的RG223测试电缆组件(BXT P/N:RG223-03-03-1000A),被测的Nm接头的螺套和外导体采用铜镀三元合金材料,内导体则采用镀金黄铜。试验是在以下条件下进行的:

  1.试验针对其中一端的Nm接口,与一个Nf连接器进行对接,采用扳手进行连接和拆卸。为了保证精度,采用了不锈钢材料的Nf接头,一般情况下,不锈钢材料的连接器的寿命是1000次,这要比铜材高出整整一倍。

  2.每插拔一次为一个循环(图1),每100次插拔后测量一次电缆组件的插入损耗和被试验端的接口的驻波,并记录在2.2GHz频率点上的数值。试验共进行了2400次。

  图1.射频连接器的寿命试验方法

  寿命试验结果

  最终测试结果见图2和图3,其中图2(a)为电缆组件在2.2GHz时插入损耗随着插拔次数的变化,图2(b)为2.2GHz时驻波随着插拔次数的变化。

  图2中的红色趋势线说明,尽管实测值有些波动,电缆组件的插入损耗总是随着接头的磨损而变大;而驻波则无明显的劣化现象,其典型值始终保持在1.07~1.09之间。

  图3是扫频条件下的插入损耗和驻波变化,分别记录了在插拔1000次,1600次和2000次情况下从10MHz-3GHz的指标。扫频结果显示在整个工作频段内,其插入损耗和驻波的变化特征与点频是一致的。

  结论

  1.虽然上述试验仅仅针对一只射频连接器,但是从试验结果依然可以得出一些参考结论:

  2.正常使用前提下,射频连接器的寿命将会大大超过500次的标准值;在整个频段内,没有发现某个频点有插入损耗和驻波的跳变现象。

  3.射频连接器的插入损耗值随着机械磨损而逐渐增加;而驻波则几乎没有变化;从过程看,似乎没有一个明显的失效点,所以在生产线上,如果没有发现电缆的明显故障,应建立强制报废制度,以保证测试指

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